Авторам Свежий номер Подписка

№10

УДК 633.63:631.531.1

http://doi.org/10.25802/SB.2019.64.39.003

РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА СВЕКЛОВИЧНЫХ СЕМЯН

О.А. Подвигина, доктор сельскохозяйственных наук ФГБНУ «Всероссийский научно-исследовательский институт сахарной свеклы и сахара имени А.Л. Мазлумова»

e-mail: vniiss@mail.ru

Н.Н. Потрахов, доктор технических наук Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» имени В.И. Ульянова

Аннотация. Представлены данные изучения и описания рентгенографических снимков семян сахарной свеклы. Неразрушающий метод мягко лучевой рентгенографии позволяет выявлять различные аномалии развития семени и исследовать взаимосвязь особенностей скрытых структурных дефектов семян и их биологических свойств. Уникальность метода состоит в том, что биологическая и хозяйственная значимость дефектов и аномалий развития семян может быть выявлена по их рентгенограмме с последующим изучением и сопоставлением с результатами роста и развития растений. Ключевые слова: сахарная свекла, рентгенографический метод, качество семян, аномалии развития.

X-ray graphic method for determining quality of sugar beet seeds

O.A. Podvigina, N.N. Potrakhov

Summary. The data of the study and description of x-ray images of sugar beet seeds are presented. The non-destructive method of soft-beam radiography makes it possible to identify various anomalies in the development of the seed and to investigate the relationship between the features of hidden structural defects of seeds and their biological properties. The uniqueness of the method lies in the fact that the biological and economic signifi cance of defects and anomalies in the development of seeds can be identified by their x-ray, followed by study and comparison with the results of plant growth and development.

Key words: sugar beet, X-ray method, seed quality, developmental anomalies.