Авторам Свежий номер Подписка

№4

УДК 633.63:631.358.42

http:// doi.org/10.25802/SB.2019.26.33.007

МЕТОДИКА ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕРЬ УРОЖАЯ САХАРНОЙ СВЕКЛЫ ОТ ПОВРЕЖДЕНИЙ КОРНЕПЛОДОВ

А.Ф. Никитин, доктор сельскохозяйственных наук

ФГБНУ «Всероссийский НИИ сахарной свеклы и сахара имени А.Л. Мазлумова»

e-mail: vniiss@mail.ru

Аннотация. Представлена методика определения потерь урожая от механических повреждений паренхимы корнеплодов сахарной свеклы, систематизированного по отдельным частям – головке, хвостовой части и боковым поверхностям. Способ определения потерь от повреждения боковых поверхностей включает вычисление коэффициента формы неповрежденных корнеплодов, определение массы пробы после выполнения технологического процесса, например, уборки, замер диаметра каждого корнеплода и расчет потерь. Расчет проводится по установленной зависимости с учетом коэффициента формы, массы каждого корнеплода при отсутствии повреждений. Потери урожая устанавливают как разность масс расчетной и взвешенной после уборки проб.

Ключевые слова: сахарная свекла, корнеплод, повреждение паренхимы, коэффициент формы корнеплода, масса корнеплода, масса пробы.

Methods to determine sugar beet yield losses due to beet root damaging

A.F. Nikitin

Summary. Results of studying methods to determine sugar beet root yield losses due to mechanical damaging of head, tail part and lateral surfaces’ parenchyma separately are presented. The methods to determine losses due to damage of lateral surfaces includes calculation of undamaged beet root shape ratio, estimation of sample mass after a technological process, harvesting for instance, measurement of each beet root and calculation of losses. The calculation is made according to the revealed dependence taking into account shape ratio and mass of each beet root without damages. Yield losses are deduced form difference between the calculated mass and the one ascertained by weighting of samples after harvesting.

Key words: sugar beet, beet root, damage of parenchyma, beet root shape ratio, beet root mass, sample mass.